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发现频道:热门排行榜[2026年第13期]

  • 更新时间 2026-03-30 17:56:24
发现频道:热门排行榜[2026年第13期]

字数 1194,阅读大约需 6 分钟

把U盘放进抽屉,6年不管,你觉得里面的数据还在吗?

有人做了一个真实的长期测试:

在 2019年底,一次性买了 10 个 32GB 的 U盘,写入随机数据后就放进抽屉

此后按计划每隔几年取出一个读取验证。

目前进行到第6年,已测试的U盘全部正常,没有出现任何数据损坏。

这个实验,准备进行27年!

目录

  • • U盘可靠性实验
    • • 实验目的
    • • 试验设备
    • • 实验内容:错峰读取
  • • 完整计划
  • • 实验结果
    • • 复测U盘
  • • 一个建议

U盘可靠性实验

这是发布在 reddit/数据囤积者 上的帖子,作者 vanceza 同时也写在了博客中。

实验目的

U盘在“长期断电、不使用”的情况下,数据能保存多久。

试验设备

具体为:Kingston Digital DataTraveler SE9 32GB USB 2.0 Flash Drive (DTSE9H/32GBZ)

  • • 型号 DTSE9H/32GBZ
  • • 条形码 740617206432
  • • WO# 8463411X001
  • • ID 2364
  • • bl 1933
  • • 序列号206432TWUS008463411X001005
  • 长脸了长脸了! 

实验内容:错峰读取

实验采用一种“错峰读取”的方式,实验第一天就用随机数据,写满10个 U盘,存放在抽屉中。

  • • 到指定年份,拿出一个U盘进行读取测试(checksum 校验)
  • • 同时对较早测试过的U盘进行复测
  • • 每次读取后,会把数据重新写入(刷新)
  • • 测试年份:1, 2, 3, 4, 6, 8, 11, 15, 20, 27

完整计划

年份
首次测试(关键样本)
复测并重写的U盘
说明
1
1
第1号盘:1年样本
2
2
1
第2号盘:2年样本
3
3
1,2
第3号盘:3年样本
4
4
1,2,3
第4号盘:4年样本
5
1,2,3
无新样本
6
5
1,2,3,4
第5号盘:6年样本
7
1,2,3
无新样本
8
6
1,2,3,4,5
第6号盘:8年样本
9
1,2,3
无新样本
10
1,2,3,4,5,6
无新样本
11
7
1,2,3
第7号盘:11年样本
12
1,2,3,4,5,6
无新样本
13
1,2,3
无新样本
14
1,2,3,4,5,6
无新样本
15
8
1,2,3,7
第8号盘:15年样本
16
1,2,3,4,5,6
无新样本
17
1,2,3
无新样本
18
1,2,3,4,5,6
无新样本
19
1,2,3,7,8
无新样本
20
9
1,2,3,4,5,6
第9号盘:20年样本
21
1,2,3
无新样本
22
1,2,3,4,5,6
无新样本
23
1,2,3,7,8
无新样本
24
1,2,3,4,5,6
无新样本
25
1,2,3
无新样本
26
1,2,3,4,5,6
无新样本
27
10
1,2,3,7,8
第10号盘:27年样本
28
1,2,3,4,5,6,9
无新样本

实验结果

实验从2019年11月开始,作者在2026年1月发布了第6年的实验结果:

年份
首次测试U盘 序号
对应闲置时间
首次测试结果
复测U盘
复测结果
是否发现bit rot
1
1
1年
正常
2
2
2年
正常
1
正常
3
3
3年
正常
1,2
正常
4
4
4年
正常
1,2,3
正常
5
1,2,3
正常
6
5
6年
正常
1,2,3,4
正常

目前看起来,U盘放6年,没有任何问题。

复测U盘

在实验过程中,有一个复测并重写阶段,可以理解为:

该U盘已经完成任务(限制N年不通电,是否可读取),此后是新任务:当作普通U盘使用,用于持续读写和稳定性验证。

一个建议

另外注意:U盘里的数据,本质上是靠“电荷”存储在闪存单元中的。随着时间推移,这些电荷会慢慢泄漏,原本表示“0”和“1”的电压差逐渐变小。

当这种差异小到一定程度,控制器就可能读错数据,于是就出现了所谓的 bit rot(位错误)。

除了时间:

  • • 温度越高,泄漏速度越快
  • • 擦写次数越多 → 存储单元老化越严重

所以,隔几年把U盘拿出来读写一次,以防数据丢失。


原文:https://www.appinn.com/usb-flash-drive-data-retention-6-years/

引用链接

[1] 帖子: https://old.reddit.com/r/DataHoarder/comments/1q6xnun/flash_media_longevity_testing_6_years_later/[2] 博客: https://blog.za3k.com/usb-flash-longevity-testing-year-2/

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